解析結果の報告
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アレイ状態
アレイ・CF面の顕微鏡写真(位置、分類分け)
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セル状態
偏光板ゴミの採取と顕微鏡写真(位置、分類分け)
ガラス表面(キズ等)の顕微鏡写真(位置、分類分け) -
モジュール状態
FPCなどの顕微鏡写真
バックライトゴミの採取と顕微鏡写真(分類分け)
VALUE TO OFFER
提供する価値
通常検査フロー
カスタマイズ検査
エージング作業
画質検査前にご依頼いただいた時間のエージングを行い、隠れた不具合を検出しやすくします
タッピング作業
パネル検査画面で、タッピング治具にて特定箇所を叩くことで振動を起こし、画面異常や、隠れた異物を検出します
統計管理
お客様の要望により、不良率を纏めたり、工程管理図でデータのバラつきを管理します
顕微鏡検査
端子や配線の断線等、目視検査では検出ができない不良を顕微鏡などで拡大をして検査をおこないます
加熱検査
特定箇所を加熱するなどのご依頼があれば、温度、加熱時間を管理し検査の流れで加熱を実施します
集中不良が出た場合、速やかに一次解析(肉眼検査)を致します
動画表示
画像ファイリング
拡大表示
2次元計測 (2点間距離・直径・2円間距離・線幅距離・X-Y距離)
タイムラプス撮影/再生 総合倍率 50、100、200、500、1000×
解析結果の報告
アレイ状態
アレイ・CF面の顕微鏡写真(位置、分類分け)
セル状態
偏光板ゴミの採取と顕微鏡写真(位置、分類分け)
ガラス表面(キズ等)の顕微鏡写真(位置、分類分け)
モジュール状態
FPCなどの顕微鏡写真
バックライトゴミの採取と顕微鏡写真(分類分け)
修理ができる不具合品を
海外の工場に輸送し、
リペアをして再度国内に送り返すと
輸送費が高コストになります。
NYSが検出した不良品なら
国内でリペア対応可能
※下記以外も対応いたします。お気軽にお問い合わせ下さい。
異物挟み込み
フレームの隙間に挟まった異物
フレームを外し、
異物を除去します
フレーム変形
フレームが変形している
フレームを新しいフレームに
交換します
基板浮き
両面テープが剥がれて基板が浮いている
テープを剥がし、
新しい両面テープを貼ります
テープ破れ
導電テープや絶縁テープなどの破れ、剥がれ
テープを剥がし、
新しいテープを貼ります
バックライト異物
バックライト内で液晶ガラスとの間に
入り込んだ異物
バックライトを外し、
ゴミを除去して
再組み込みします